1.超聲檢測(cè)

　　超聲檢測(cè)的基本原理是：利用超聲波在界面（聲阻抗不同的兩種介質(zhì)的結(jié)合面）的反射和折射以及超聲波在介質(zhì)中傳播過(guò)程中的衰減，由發(fā)射向被檢件發(fā)射超聲波，由接收接收從界面（缺陷或本底）處反射回來(lái)超聲波（反射法）或透過(guò)被檢件后的透射波（透射法），以此檢測(cè)備件部件是否存在缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行、定性與定量。

　　超聲檢測(cè)主要應(yīng)用于對(duì)金屬板材、管材和棒材，鑄件、鍛件和焊縫以及橋梁、房屋建筑等混凝土構(gòu)建的檢測(cè)。

　　2.射線檢測(cè)

　　射線檢測(cè)的基本原理是：利用射線(X射線、γ射線和中子射線)在介質(zhì)中傳播時(shí)的衰減特性，當(dāng)將強(qiáng)度均勻的射線從被檢件的一面注入其中時(shí)，由于缺陷與被檢件基體材料對(duì)射線的衰減特性不同，透過(guò)被檢件后的射線強(qiáng)度將會(huì)不均勻，用膠片照相、熒光屏直接觀測(cè)等方法在其對(duì)面檢測(cè)透過(guò)被檢件后的射線強(qiáng)度，即可判斷被檢件表面或內(nèi)部是否存在缺陷（異質(zhì)點(diǎn)）。

　　射線檢測(cè)主要用于鑄件、焊縫等的檢測(cè)。

　　3.磁粉檢測(cè)

　　磁粉檢測(cè)的基本原理是：由于缺陷與基體材料的磁特性（磁阻）不同穿過(guò)基體的磁力線在缺陷處將產(chǎn)生彎曲并可能逸出基體表面，形成漏磁場(chǎng)。若缺陷漏磁場(chǎng)的強(qiáng)度足以吸附磁性顆粒，則將在缺陷對(duì)應(yīng)處形成尺寸比缺陷本身更大、對(duì)比度也更高的磁痕，從而指示缺陷的存在。

　　目前，磁粉檢測(cè)主要應(yīng)用于金屬鑄件、鍛件和焊縫的檢測(cè)。